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當前位置:首頁 > 技術文章
  • 2024

    1-30

    可靠性測試中HALT實驗與HASS實驗的區別

    什么是HALT試驗?HALT(HighlyAcceleratedLifeTest)的全稱是高加速壽命試驗。HALT是一種通過施加逐級遞增的環境應力或工作載荷,來加速暴露產品的缺陷和薄弱點的試驗方法。主要應用于產品開發階段,它能以較短的時間促...

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  • 2024

    1-16

    專家訪談丨中國“芯”飽受良率之痛,芯片制造該如何破局?

    本期話題芯片被稱為信息產業的糧食和“大腦”,是信息社會的基石,在信息化、智能化不斷加快的今天,芯片已經成為戰略性、基礎性產業。可以說,芯片作為支撐中國經濟持續高質量發展、特別是支撐戰略性新興產業崛起,其地位更是難以替代。然而,芯片制造是一項...

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  • 2024

    1-11

    技術干貨| 關于電子元器件空間輻射單粒子效應的考核

    宇宙遍布著各種高能量的輻射粒子,這些粒子會對元器件帶來影響,如何進行抗輻射設計成為了工程師針對邏輯類數字電路、存儲器以及某些功率器件的一個必要考量。宇宙空間中存在能量高而數量極低的輻射粒子,這些粒子會造成瞬態巨大的電離能量沉積。沉積的能量可...

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  • 2024

    1-4

    技術分享丨CAN/CANFD一致性測試

    在汽車“新四化”的浪潮下,現代汽車的電子化程度逐步提高,越來越多的電子控制單元(ECU)加入到汽車的功能控制中,各ECU通過CAN/CANFD等總線技術實現相互通訊,汽車CAN總線網絡變得越來越復雜。各個CAN節點質量良莠不齊,可能會給車輛...

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  • 2023

    12-29

    技術干貨| 光纖連接器可靠性要求

    光纖連接器推動大數據時代發展未來網絡將更加依賴可靠的光連接。近年來,智慧城市、固定寬帶、移動互聯網和物聯網等產業的快速發展,推動了大數據與云計算的快速增長。每天都有海量數據產生,需要傳輸、存儲和處理的數據呈幾何級數增加,信息發展進入了大數據...

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  • 2023

    12-29

    技術科普| 電子產品可靠性評價方法:MTBF可靠性評價介紹

    客戶需求在推出新產品時,客戶經常詢問產品的可使用年限以及如何確保用戶能夠正常使用若干年(如三年以上)。以每天使用10小時為例,產品需要保證三年使用期間內11000小時可靠期限。特別是在產品設計、驗證和推廣階段,產品設計方特別關注產品的可靠性...

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